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7-PLSpec 系列发光光谱测试系统
晶体材料产生的荧光,通过对其荧光光谱的测量,分析材料能带结果等特征。 系统型号系统特点7-PLSpec I常温扫描型7-PLSpec II低温扫描型7-PLSpec MMini 摄谱型 技术指标光谱
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光致发光光谱成像测量系统
PMEye-3000光致发光光谱成像(PL-Mapping)测量系统是卓立汉光zei新研制的,用于LED外延片、半导体晶片、太阳能电池材料等,在生产线上的质量控制和实验室中的产品
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卓立汉光PL光致发光光谱测量系统
短波长激光(如325nm/442nm等)激发材料(如GaN/ZnO)产生荧光,通过对其荧光光谱的测量,分析该材料的光学特性。PL光致发光光谱测量系统典型应用于LED发光材料、半导体材料的研究
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光致发光量子效率测试系统
QES-PL光致发光量子效率测量系统针对器件的光致发光特性进行有效测量,此系统能用于多种领域,包括工业、生物和学术研究等。
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光致发光影像系统--Helios
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显微光致发光光谱仪
(波长如325nm、532nm、785nm 等)激发材料(如GaN、ZnO、GaAs 等)产生荧光,通过对其荧光光谱(即PL 谱)的测量,分析该材料的光学特性,如禁带宽度等。光致发光可以提供有
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相机特性参数测试系统
卓立汉光的相机特性参数测试系统是一种先进的多功能测试工具,可对CCD 和CMOS 相机以及成像传感器进行完整控制和评估。该系统符合欧洲机器视觉协会(EMVA)1288 标准,以及GB/T
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荧飒光学FTPL10傅里叶变换光致发光光谱仪
光学研发者凭借超过20年的微弱信号与红外PL光谱测量经验,充分了解相关领域的难点和痛点,首次推出了完全自主知识产权的FTPL10系列独立式傅里叶红外光致发光光谱仪。FTPL10具有优异的红外波段弱信号
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荧飒光学 傅里叶变换光致发光光谱仪 FTPL-10
隙检测、杂质缺陷分析、复合机制与品质签定等。但在光致发光的红外区这一弱信号检测领域,市场上现有的测量系统对使用者的光谱实验技能要求高,使用者需要耗时费力调整光路,才能找到微弱的PL光谱信号,光谱
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光学镜头光谱透过率检测系统
光学镜头光谱透过率检测系统 ■ 该系统测量光学镜头的光谱透过率(光学镜头透过率>10%) ■ 可测镜头口径:Φ8~Φ150mm(通过光阑变化选择),zei大
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